壹、儀器設備
一、穿透式電子顯微鏡
1. 英文名稱： JEOL JEM-1230 Transmission Electron Microscope with Gatan DualVision CCD Camera
2. 中文名稱： JEOL 1230 穿透式電子顯微鏡及 GATAN DualVision CCD 照相機
3. 重要規格：
（ 1 ）電子源：熱陰極電子鎗（鎢絲或是 LaB6 燈絲）
（ 2 ）最大加速電壓： 120KV
（ 3 ）倍率：最低 50x ，最高 600,000x
（ 4 ）傾斜角度：正負 30 度
4. 儀器說明：
（ 1 ）購置年月： 2004 年 8 月 15 日
（ 2 ） JEM-1230 為日本電子公司 （JEOL Co.Ltd） 所開發 LaB 6 穿透式電子顯微鏡，配備高性能 LaB 6 電子源，提供高亮度高空間解析度的電子束，由於真空要求度不高，適合多樣化的各種試片分析，加速電壓 （Acceleration Voltage） 分別有 40, 60, 80, 100, 120 kV ，而儀器 放大倍率 （Magnification） 可以從 10 ~ 600,000 X ， 解像力 （Resolution） 則分別為 0.14nm（lattice image） 0.3nm（point image） 。 JEM-1230 的標準功能包括穿透影像觀察，電子繞射做晶體結構分析，配合數位影像拮取系統 （CCD） 可取代傳統的底片拍照方式，具有節省成本與時間之優點。
＊本儀器並未加裝 EDS（Energy Dispersive Spectrum） 能量分散式光譜儀，所以不支援元素分析之功能。
二、冷凍薄膜切割機
1. 英文名稱： Leica Ultracut UCT6 and Leica FCS（Low Temperature Sectioning System）and Leica EM KMR2（Glass Knife Maker）
2. 中文名稱： Leica 超薄切片機、 Leica 低溫切片設備、 Leica 玻璃刀製刀機
3. 儀器說明：
（ 1 ）本設備系統用於製備 TEM 樣品切片
（ 2 ）購置年月： 2004 年 9 月 10 日
貳、服務項目
各種材料（包含高分子、生醫材料、金屬、電子與陶瓷材料）內部微結構影像或晶體排列繞射圖譜之測定。
參、申請服務辦法
預約方式：預約請洽管理者(目前此測項因儀器損壞，暫停接受委託測試)
管理人：賴癸安
#mail： kueian.lai@gmail.com（電話： 02-33661599 ；高分子所 301 室） -TEM
開放時段：
第一操作時段：週一至週五上午 9:00~12:00
第二操作時段：週一至週五下午 1:00~4:00
使用資格：
依據使用者對於儀器了解程度之不同，給予 A 、 B 二種不同等級之證照。各級證照持有人使用權限範圍如下：
A 級：可完全自行操作之使用者，白天上班時間或夜間假日皆可使用。
B 級：可於白天上班時間使用，但僅限簡易之操作。
注意事項：
1. 儀器之使用以實驗室教授為申請單位，時間排定後有任何問題請於上機前 24 小時通知，否則費用照計。
2. 每次最多可申請一個單元（ 3 小時）上機時間，待做完後始可再預約。
3. 具有強磁性之材料，恕不受理。
4. 試片在電子束照射下會有氣體揮發之材料，因有礙必要之真空維持，恕不受理。
5. 無機材料之研磨、拋光、打薄、鍍膜等需自行處理。
6. 生物樣品乾燥請自行處理。
7. 若為高分子材料需要切片而欲申請切片機之使用者，請參照儀器管理辦法來辦理。
8. 本儀器不支援元素分析和高解析影像 （HR-TEM） 等功能。
9. 使用者有義務 保持整個儀器室及機件周邊之清潔。
肆、收費標準
一、校內人員
（一） 高分子所成員
1. 每時段 3 小時： 1000 元
2. 超薄切片：每一試片常溫 500 元，低溫 1500 元
3. 底片（含沖洗）：每張 100 元
4. 影像檔：每一影像檔 20 元
（二）本校其他單位人員
1. 每時段 3 小時： 2000 元
2. 超薄切片：每一試片常溫 1500 元，低溫 3000 元
3. 底片（含沖洗）：每張 100 元
4. 影像檔：每一影像檔 20 元
二、校外人員
1. 每時段 3 小時： 4500 元
2. 超薄切片：每一試片 7500 元，低溫 11500 元
3. 底片（含沖洗）：每張 100 元
4. 影像檔：每一影像檔 20 元
＊以上收費標準不包含代為操作費用。如需操作人員代為操作，每時段 3 小時： 3000 元
伍、預期回件時間：實驗當天將底片或結果取回
陸、管理委員會：
第一條：管理委員會之產生
1. 本委員會設委員八人，所長為當然委員，其餘人由所長提名經所務會議同意組成，
現任所長為本委員會召集人。
2. 本委員會之委員任期為二年，得連任之。
第二條：成員
1. 召集人：鄭如忠教授
2. 管理委員：本所專任教師。
3. 技術人員：五位具有 A 級認證資格之 TEM 助教。
第三條：工作要點
1. 本委員會每學期至少開會一次，須有三分之二以上委員出席始得開會，二分之一以上出席委員同意，始得作出決議。
2. 本委員會負責處理下列事務：
（1） 貴重儀器設備管理辦法之制訂與修訂。
（2） 貴重儀器設備之管理。
（3） 貴重儀器設備使用糾紛之協調與仲裁。
（4） 貴重儀器設備收費標準之制定與修訂。
（5） 對違反儀器設備管理辦法及實驗室安全之處分建議。
柒、使用資格之認定：
ㄧ﹑前言
為充分服務使用者，發揮儀器效能，以疏解日益增多的服務需求，並收人才訓練之效，特訂定本辦法。
二﹑資格之認定標準
A 級 ： 可完全自行操作之使用者，白天上班時間或夜間假日皆可使用。
B 級 ： 可於白天上班時間使用，但僅限簡易之操作。
C 級 ： 於白天上班時間，全程由技術人員代為操作。
三﹑ A 級執照訓練細則
培訓資格：
1： 修習過專業電子顯微鏡課程且成績及格之高分子所合聘教授研究生。
2： 儀器管理人員做過筆試考核通過者。
儀器訓練：
1： 具有使用資格之研究生，可申請儀器訓練。
2： 儀器訓練由儀器管理人員負責進行，或由各實驗室 A 級使用者代為訓練後與管理者申請檢定。
3： 儀器訓練每學年一梯次，同實驗室者不得重複報名。學習時間每週兩小時，以 10 次為限，若 10 次內無法通過執照考核，將待別梯次重新申請儀器訓練。
檢定考試：
檢定考試包含口試與操作考試兩部份，考試時間為 1 小時，可視情況予以延長，鑑定考試未通過者，需等三週後方可在申請考核。
口試 ： 儀器基本原理與緊急狀況之處理。
操作考 ： alignment 步驟與試片影像拍攝之流程
四﹑ B 級執照訓練細則
培訓資格同 A 級執照，參加過 3 次以上之儀器訓練講習者，經儀器管理人員核可獲 B 級執照認定。
B 級操作者晉升 A 級之辦法 （ 實際操作 20 小時並與管理者提出申請 ） 。
五﹑ C 級執照訓練細則
ㄧ般儀器預約使用者皆為 C 級執照。
六﹑使用者須知
使用前需確認儀器狀況正常方可上機使用，使用後請務必詳細填寫使用記錄簿，若遇突發之狀況如停電，燈絲燒毀等也需詳細填寫上去說明情況。
若因人為之不當使用造成儀器之毀損，將視情況予以禁用一段時間，嚴重者，取消其使用執照。